新科金朋(STATS ChipPAC)采购惠瑞捷(Verigy)Port Scale射频(RF)测试解决方案，以测试高整合度的无线射频元件。

　　Verigy V93000是一套可扩充的机台架构，能用以测试系统单晶片(SoC)、系统级封装(SIP)、以及高速记忆体元件。能解决业者在进行原速(At-speed)的工程特性量测或是大量生产测试的性能及成本上面临的严苛挑战。

　　Port Scale射频测试解决方桉可为整合元件(内含射频、溷合讯号、数位、电源管理、以及嵌入式或堆叠式记忆体等电路)，提供高效率的多元件(Multi- site)测试能力以及所需的测试埠数。这套测试系统可提供大规模的多元件测试能力，支援高达12.8Gbps的资料速率，以及各种数位、溷合讯号、射频及无线通讯的应用，如蜂巢式通讯、WLAN、WiMAX及UWB等。